Componentes eletronicos em campinas
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O Centro de Soluções ao Cliente (CSC) em Campinas apresenta nossas soluções de raios X radiográficos, incluindo equipamentos avançados de tomografia computadorizada (CT), scanner avançado de radiografia computadorizada (CR) CRxVision e CRxFlex, matrizes de detectores digitais portáteis sem fio, e o x|cube compact 225 para inspeção de fundição radioscópica, bem como o sistema de inspeção de raios X de microfocus eletrônicos phoenix x|aminer. Este centro é permanentemente equipado por engenheiros de aplicação experientes, que são especialistas nas várias tecnologias de inspeção e podem fornecer conselhos e ajuda em sua aplicação.
A Waygate Technologies, anteriormente conhecida como GE Inspection Technologies, destaque do novo centro é a Phoenix v|tome|x m 300, um sistema compacto de tomografia computadorizada (CT) para aplicações de pesquisa científica, bem como metrologia 3D e análise de falhas para controle de processos industriais. O v|tome|x m 300 fornece detectabilidade detalhada até < 1 mícron e pode ser usado com amostras de alta densidade de até 50 kg a 300 kV. Ele apresenta nosso conjunto de detectores digitais DXR extremamente dinâmico e click&measure|CT de aquisição de dados e processamento de volume totalmente automatizados para varredura rápida, fácil e produtiva e avaliações de CT confiáveis. O v|tome|x m 300 é apenas um exemplo da gama de sistemas de tomografia computadorizada disponíveis na Inspection Technologies.
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Aceito em 15 de abril de 2021Primeiro publicado em 19 de abril de 2021AbstractRecentemente, foram propostos nanofios de cone de núcleo como potenciais conectores elétricos para componentes nanoeletrônicos. Um candidato promissor são os nanofios Mn5Si3 encapsulados em uma casca de óxido, devido à sua baixa reatividade e grande flexibilidade. Neste trabalho, investigamos o uso do método de nanonucleação de fluxo metálico em uma etapa, para facilmente cultivar nanofios protegidos por silicato de manganês com um único cristal de óxido de manganês, realizando sua caracterização estrutural e elétrica. Descobrimos que o método de fabricação produz uma estrutura cristalina hexagonal de temperatura ambiente com o eixo c ao longo do nanofios. Além disso, os nanofios obtidos são metálicos a baixa temperatura e pouco sensíveis a um forte campo magnético externo. Finalmente, observamos um mecanismo de dispersão de elétrons desconhecido para pequenos diâmetros. Em conclusão, o método de nanonucleação de fluxo metálico em uma etapa produz nanofios intermetálicos adequados tanto para integração em nanoeletrônica flexível quanto para experimentos de transporte de baixa dimensão.
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